AOI（Automatic Optical Inspection），即自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)技術(shù)，是一種利用光學(xué)原理和圖像處理技術(shù)自動(dòng)檢測(cè)和測(cè)量特定對(duì)象的自動(dòng)設(shè)備。SWM（SurfaceWaferMetrology），即表面硅晶圓測(cè)量技術(shù)，是在半導(dǎo)體制造中用于測(cè)量半導(dǎo)體晶圓表面幾何形狀、尺寸、位置、晶向等特征參數(shù)的一種技術(shù)。

在自動(dòng)化生產(chǎn)中，AOI和SWM技術(shù)的應(yīng)用主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：

1. 質(zhì)量檢測(cè)：AOI和SWM技術(shù)可以對(duì)生產(chǎn)線上的產(chǎn)品進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)，以確保產(chǎn)品的質(zhì)量符合要求。例如，AOI設(shè)備可以用于檢測(cè)平板顯示器的光學(xué)、信號(hào)、電氣性能等各種功能，主要用于確認(rèn)生產(chǎn)制程是否完好、分辨良品與否、對(duì)不良品進(jìn)行復(fù)判、再次檢測(cè)、評(píng)價(jià)質(zhì)量水平、改善制程工藝和流程、分類并加以解析等。

2. 缺陷檢測(cè)：AOI和SWM技術(shù)可以檢測(cè)出產(chǎn)品表面的缺陷，如劃痕、裂紋、凹陷等，從而提高產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。例如，AOI設(shè)備可以用于檢測(cè)PCB、FPD、半導(dǎo)體等行業(yè)的產(chǎn)品，以及LCD領(lǐng)域的Array、CF、Cell、Module端和TP領(lǐng)域的產(chǎn)品。

3. 尺寸測(cè)量：AOI和SWM技術(shù)可以對(duì)產(chǎn)品的尺寸進(jìn)行測(cè)量，以確保產(chǎn)品的尺寸符合要求。例如，AOI設(shè)備可以用于測(cè)量0402尺寸以下的電阻和電容等零件的尺寸。

4. 定位和對(duì)準(zhǔn)：AOI和SWM技術(shù)可以對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行定位和對(duì)準(zhǔn)，以確保產(chǎn)品的位置和方向符合要求。例如，AOI設(shè)備可以用于檢測(cè)SMT貼片加工生產(chǎn)線的產(chǎn)品。

5. 數(shù)據(jù)采集和分析：AOI和SWM技術(shù)可以采集產(chǎn)品的數(shù)據(jù)，并對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析和處理，以提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。例如，AOI設(shè)備可以通過攝像頭掃描PCB板采集圖像，與數(shù)據(jù)庫比對(duì)來檢測(cè)焊點(diǎn)，可以節(jié)省人力和降低成本。

總之，AOI和SWM技術(shù)在自動(dòng)化生產(chǎn)中具有廣泛的應(yīng)用，可以提高生產(chǎn)效率、降低生產(chǎn)成本、提高產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性，為企業(yè)帶來了巨大的經(jīng)濟(jì)效益和社會(huì)效益。